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क्रिस्टलीय संरचना और परमाणु संरचना के अध्ययन के लिए ऑप्टिकल मापने वाली एक्सआरडी मशीन
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xप्रकार | ऑप्टिकल विश्लेषणात्मक उपकरण | विश्लेषण सामग्री | क्रिस्टलीय सामग्री की संरचना और परमाणु संरचना |
---|---|---|---|
अधिकतम आउटपुट पावर | किलोवाट उच्च आवृत्ति उच्च वोल्टेज जनरेटर | स्कैनिंग रेंज | -35°~160° |
स्कैन गति | 0.0012°~120°/मिनट | पोजिशनिंग स्पीड | 1500 डिग्री / मिनट |
माप की सटीकता | ≦0.001° | DIMENSIONS | 1300mmx1000mmx1800mm |
हाई लाइट | ऑप्टिकल मापने xrd मशीन,क्रिस्टलीय xrd मशीन |
क्रिस्टलीय सामग्री की संरचना और परमाणु संरचना के अध्ययन के लिए ऑप्टिकल मापक यंत्र एक्स-रे डिफ्रेक्टोमीटर
एक्स-रे डिफ्रेक्टोमीटर विश्लेषणात्मक उपकरण हैं जो क्रिस्टलीय सामग्रियों और सामग्रियों की संरचना और परमाणु संरचना का अध्ययन और विशेषता बताते हैं।एक्स-रे डिफ्रेक्टोमीटर उत्पाद डिजाइन अवधारणा में औद्योगिक प्रक्रिया नियंत्रण में परिपक्व और स्थिर प्रोग्रामेबल कंट्रोलर तकनीक का परिचय देता है, जिससे एक्स-रे पाउडर डिफ्रेक्टोमीटर उच्च परिशुद्धता और उच्च सटीकता के साथ बनता है।उत्पाद अच्छी यांत्रिक स्थिरता स्थायित्व, आसान उन्नयन, आसान संचालन और बुद्धिमान सुविधाओं के साथ है, यह लचीले ढंग से विभिन्न उद्योगों में परीक्षण विश्लेषण और अनुसंधान के लिए अनुकूल हो सकता है।
- स्थिरता और विश्वसनीयता के लिए पीएलसी (प्रोग्रामेबल लॉजिक कंट्रोल)।
- मॉड्यूलर डिजाइन, सामान की विस्तृत श्रृंखला।
- अनुसूचित जाति या पीसी डिटेक्टर
- स्थिरता और विश्वसनीयता के लिए उच्च आवृत्ति और उच्च वोल्टेज एक्स-रे पावर प्रौद्योगिकी (वैकल्पिक)
- उच्च स्थिरता एक्स-रे जनरेटर
- उच्च परिशुद्धता बहु समारोह गोनियोमीटर
- कार्यक्षेत्र (θs-θd) पेटेंट प्रौद्योगिकी गोनियोमीटर
मुख्य तकनीकी विशिष्टता और विशेषताएं
एक्स-रे ट्यूब | लक्ष्य: Cu,Fe,Co,Cr,Mo,W (धातु या सिरेमिक वैकल्पिक) |
फोकस आकार: 1 * 10 मिमी2या 0.4 * 14 मिमी2 | |
रेटेड पावर: 2.4kw या 2.7 kw | |
एक्स-रे जनरेटर (पीएलसी नियंत्रण) | अधिकतम उत्पादन शक्ति: 4kw उच्च आवृत्ति उच्च वोल्टेज जनरेटर |
एक्स-रे ट्यूब वोल्टेज: 10 ~ 60kv, 0.1kv/कदम | |
एक्स-रे ट्यूब करंट: 5~80mA, 0.1mA/स्टेप | |
आउटपुट स्थिरता ≦0.05% (मुख्य उतार-चढ़ाव ± 10%) | |
गोनियोमीटर |
गोनियोमीटर संरचना: लंबवत गोनियोमीटर θs-θd (नमूना निश्चित) स्कैनिंग त्रिज्या: मानक 225 मिमी (185- 300 मिमी लगातार समायोज्य |
स्कैनिंग रेंज: -35°~160° | |
स्कैन गति: 0.0012°~120°/मिनट | |
पोजिशनिंग गति: 1500 डिग्री / मिनट | |
ड्राइव मोड: θs-θd लिंकेज, θs या θd सिंगल | |
स्कैन मोड: स्टेपिंग, निरंतर, सेगमेंटेशन, ट्रांसमिशन स्कैनिंग | |
न्यूनतम चरण कोण: 0.0001° | |
माप सटीकता: ≦0.001° | |
20 कोण दोहराने योग्यता: 0.0001 डिग्री | |
रिकॉर्ड नियंत्रण इकाई (डिटेक्टर) | डिटेक्टर प्रकार: एसडीडी या एससी |
अधिकतम रैखिक गणना दर: 1X107cps, (शोर≤0.2cps) | |
ऊर्जा संकल्प: एससी ≤50%, पीसी ≤2 | |
कार्य मोड: पीएलसी स्वचालित नियंत्रण अंतर, अभिन्न मोड रूपांतरण | |
PLC स्वचालित रूप से PHA डेड टाइम करेक्शन करता है | |
डिटेक्टर उच्च वोल्टेज 0 ~ 2200VDC लगातार समायोज्य | |
वोल्टेज स्थिरता: 0.005% | |
सुरक्षा सुरक्षा अलार्म प्रकार | केवी और एमए बहुत अधिक या बहुत कम हैं, अधिभार संरक्षण, कोई पानी अलार्म नहीं, एक्स-रे ट्यूब ओवर-तापमान और अन्य एकाधिक सुरक्षा, विकिरण रिसाव, सुरक्षात्मक दरवाजा इंटरलॉक सुरक्षा और प्लेटफ़ॉर्म लीड शील्डिंग सुरक्षा को रोकने के लिए। |
एक्स-रे रिसाव स्थिरता आयाम (मुख्य निकाय | ≦0.1 µSv/h (पृष्ठभूमि को घटाए बिना, एक्स-रे ट्यूब की अधिकतम शक्ति) |
≦0.3% (40kV, 40mA, 8 घंटे तक लगातार संचालन) | |
1300mmx1000mmx1800mm (लंबाई * चौड़ाई * ऊंचाई) |